XWS-X—高亮
ISTEQ的XWS-X 是專門為那些需要高強度的、高紫外光源的客戶開發(fā)的。產(chǎn)品特點:?與XWS-65相比,整個光譜范圍的亮度明顯更高?最大光譜亮度up to 120mW mW/(mm2·sr·nm)?與 XWS-65相比,在250nm以下的紫外波段的亮度提高?輸出配置: Free space or FCU?雙端口配置?高功率配置,輸出亮度up to 200mW/(mm2·sr·nm)
- 型號: XWS-X
- 品牌: ISTEQ
- 產(chǎn)地: 荷蘭
ISTEQ的XWS-X 是專門為那些需要高強度的、高紫外光源的客戶開發(fā)的。產(chǎn)品特點:?與XWS-65相比,整個光譜范圍的亮度明顯更高?最大光譜亮度up to 120mW mW/(mm2·sr·nm)?與 XWS-65相比,在250nm以下的紫外波段的亮度提高?輸出配置: Free space or FCU?雙端口配置?高功率配置,輸出亮度up to 200mW/(mm2·sr·nm)
ISTEQ的XWS-X 是專門為那些需要高強度的、高紫外光源的客戶開發(fā)的。
產(chǎn)品特點:
?與XWS-65相比,整個光譜范圍的亮度明顯更高
?光譜亮度up to 120mW mW/(mm2·sr·nm)
?與 XWS-65相比,在250nm以下的紫外波段的亮度提高
?輸出配置: Free space or FCU
?雙端口配置
?高功率配置,輸出亮度up to 200mW/(mm2·sr·nm)
應(yīng)用領(lǐng)域:
? 吸收和熒光光譜學(xué)
? 微電子學(xué)中的診斷系統(tǒng)-污染和缺陷控制
? 表面測量,橢偏測量和散射測量
? 顯微鏡,包括共聚焦和熒光
? 光學(xué)組件檢測
? 色譜檢測器,微流體,晶圓實驗室,液滴光譜儀,細(xì)胞熒光計等